Никифоров Александр Иванович
| # |
Название |
Период |
Количество |
| 1 |
Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова СО РАН
|
2001 - 2020
|
5
|
| 2 |
Национальный исследовательский Томский государственный университет
|
2020
|
3
|
Статьи в журналах - 4
Статьи в журналах (4)
Подробнее
|
1
|
Timofeev V.A.
,
Mashanov V.I.
,
Nikiforov A.I.
,
Azarov I.A.
,
Loshkarev I.D.
,
Korolkov I.V.
,
Gavrilova T.A.
,
Yesin M.Y.
,
Chetyrin I.A.
Effect of Annealing Temperature on the Morphology, Structure, and Optical Properties of Nanostructured SnO(x) Films
Materials Research Express. 2020.
V.7. N1. 015027
:1-9. DOI: 10.1088/2053-1591/ab6122
WOS
Scopus
|
|
2
|
Timofeev V.
,
Mashanov V.
,
Nikiforov A.
,
Skvortsov I.
,
Gavrilova T.
,
Gulyaev D.
,
Gutakovskii A.
,
Chetyrin I.
Effect of Sn for the Dislocation-free SiSn Nanostructure Formation on the Vapor-Liquid-Crystal Mechanism
AIP Advances. 2020.
V.10. N1. 015309
:1-7. DOI: 10.1063/1.5139936
WOS
Scopus
|
|
3
|
Nikiforov A.
,
Timofeev V.
,
Mashanov V.
,
Azarov I.
,
Loshkarev I.
,
Volodin V.
,
Gulyaev D.
,
Chetyrin I.
,
Korolkov I.
Formation of SnO and SnO2 Phases During the Annealing of SnO(x) Films Obtained by Molecular Beam Epitaxy
Applied Surface Science. 2020.
V.512. 145735
:1-7. DOI: 10.1016/j.apsusc.2020.145735
WOS
Scopus
|
|
4
|
Vasilenko A.P.
,
Kolesnikov A.V.
,
Nikitenko S.G.
,
Fedorov A.A.
,
Sokolov L.V.
,
Nikiforov A.I.
,
Trukhanov E.M.
X-Ray Film Interferometer as an Instrument for Semiconductor Heterostructure Investigation
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A. 2001.
V.470. N1-2. P.110-113. DOI: 10.1016/S0168-9002(01)01008-7
WOS
Scopus
РИНЦ
|