Никифоров Александр Иванович

#	Название	Период	Количество
1	Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова СО РАН	2001 - 2020	5
2	Национальный исследовательский Томский государственный университет	2020	3

Статьи в журналах - 4

1	Timofeev V.A. , Mashanov V.I. , Nikiforov A.I. , Azarov I.A. , Loshkarev I.D. , Korolkov I.V. , Gavrilova T.A. , Yesin M.Y. , Chetyrin I.A. Effect of Annealing Temperature on the Morphology, Structure, and Optical Properties of Nanostructured SnO(x) Films Materials Research Express. 2020. V.7. N1. 015027 :1-9. DOI: 10.1088/2053-1591/ab6122 WOS Scopus РИНЦ
2	Timofeev V. , Mashanov V. , Nikiforov A. , Skvortsov I. , Gavrilova T. , Gulyaev D. , Gutakovskii A. , Chetyrin I. Effect of Sn for the Dislocation-free SiSn Nanostructure Formation on the Vapor-Liquid-Crystal Mechanism AIP Advances. 2020. V.10. N1. 015309 :1-7. DOI: 10.1063/1.5139936 WOS Scopus РИНЦ
3	Nikiforov A. , Timofeev V. , Mashanov V. , Azarov I. , Loshkarev I. , Volodin V. , Gulyaev D. , Chetyrin I. , Korolkov I. Formation of SnO and SnO2 Phases During the Annealing of SnO(x) Films Obtained by Molecular Beam Epitaxy Applied Surface Science. 2020. V.512. 145735 :1-7. DOI: 10.1016/j.apsusc.2020.145735 WOS Scopus РИНЦ
4	Vasilenko A.P. , Kolesnikov A.V. , Nikitenko S.G. , Fedorov A.A. , Sokolov L.V. , Nikiforov A.I. , Trukhanov E.M. X-Ray Film Interferometer as an Instrument for Semiconductor Heterostructure Investigation Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A. 2001. V.470. N1-2. P.110-113. DOI: 10.1016/S0168-9002(01)01008-7 WOS Scopus РИНЦ