Мухгалин Владислав Викторович
# |
Название |
Период |
Количество |
1 |
Физико-технический институт УрО РАН
|
2012 - 2015
|
9
|
Статьи в журналах - 1
,
Тезисы докладов - 4
,
Доклады на конференциях - 4
Статьи в журналах (1)
Подробнее
Тезисы докладов (4)
Подробнее
1
|
Кривенцов В.В.
,
Валеев Р.Г.
,
Бельтюков А.Н.
,
Мухгалин В.В.
,
Романов Э.А.
,
Максимовский Е.А.
,
Якимчук Е.П.
,
Новгородов Б.Н.
,
Мезенцев Н.А.
Исследование полупроводниковых наноматериалов ZnS, ZnSe методом XAFS.
В сборнике
I Всероссийская научная Интернет - конференция с международным участием «Спектрометрические методы анализа».
– Индивидуальный предприниматель Синяев Дмитрий Николаевич.,
2013.
– C.51. – ISBN 9785906217219.
РИНЦ
|
2
|
Кривенцов В.В.
,
Валеев Р.Г.
,
Бельтюков А.Н.
,
Мухгалин В.В.
,
Романов Э.А.
,
Максимовский Е.А.
,
Якимчук Е.П.
,
Новгородов Б.Н.
,
Мезенцев Н.А.
XAFS - исследование наноструктур Ge и GaAs, локализованных в упорядоченных порах оксидного темплата.
В сборнике
I Всероссийская научная Интернет - конференция с международным участием «Спектрометрические методы анализа».
– Индивидуальный предприниматель Синяев Дмитрий Николаевич.,
2013.
– C.50. – ISBN 9785906217219.
РИНЦ
|
3
|
Валеев Р.Г.
,
Кривенцов В.В.
,
Деев А.Н.
,
Кобзиев В.Ф.
,
Мухгалин В.В.
EXAFS-исследование локальной структуры нанонитей GaAs, стабилизированных в калиброванных порах оксида алюминия
В сборнике
XIX Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения "СИ-2012".
– ИЯФ СО РАН.,
2012.
– C.113.
|
4
|
Валеев Р.Г.
,
Кривенцов В.В.
,
Деев А.Н.
,
Кобзиев В.Ф.
,
Мухгалин В.В.
Структурное исследование полупроводниковых материалов на основе соединений галлия
В сборнике
XIX Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения "СИ-2012".
– ИЯФ СО РАН.,
2012.
– C.112.
|
Доклады на конференциях (4)
Подробнее
1
|
Кривенцов В.В.
,
Валеев Р.Г.
,
Бельтюков А.Н.
,
Мухгалин В.В.
,
Романов Э.А.
,
Максимовский Е.А.
,
Якимчук Е.П.
,
Новгородов Б.Н.
,
Мезенцев Н.А.
XAFS - исследование наноструктур Ge и GaAs, локализованных в упорядоченных порах оксидного темплата.
I Всероссийская научная Интернет - конференция с международным участием «Спектрометрические методы анализа»
26-26 Sep 2013
|
2
|
Кривенцов В.В.
,
Валеев Р.Г.
,
Бельтюков А.Н.
,
Мухгалин В.В.
,
Романов Э.А.
,
Максимовский Е.А.
,
Якимчук Е.П.
,
Новгородов Б.Н.
,
Мезенцев Н.А.
Исследование полупроводниковых наноматериалов ZnS, ZnSe методом XAFS.
I Всероссийская научная Интернет - конференция с международным участием «Спектрометрические методы анализа»
26-26 Sep 2013
|
3
|
Валеев Р.Г.
,
Кривенцов В.В.
,
Деев А.Н.
,
Кобзиев В.Ф.
,
Мухгалин В.В.
Структурное исследование полупроводниковых материалов на основе соединений галлия
XIX Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения
25-28 Jun 2012
|
4
|
Валеев Р.Г.
,
Кривенцов В.В.
,
Деев А.Н.
,
Кобзиев В.Ф.
,
Мухгалин В.В.
EXAFS-исследование локальной структуры нанонитей GaAs, стабилизированных в калиброванных порах оксида алюминия
XIX Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения
25-28 Jun 2012
|