Мухгалин Владислав Викторович | Sciact - CRIS-система Института катализа - публикации, сотрудники

Мухгалин Владислав Викторович

Внешние ссылки

ORCID: 0000-0002-4894-4663

ResearcherID: G-4081-2016

Аффилиации

#	Название	Период	Количество
1	Физико-технический институт УрО РАН	2013 - 2015	5

Научная деятельность

Статьи в журналах - 1 , Тезисы докладов - 4 , Доклады на конференциях - 4

Статьи в журналах (1) Подробнее

1

Valeev R.G. , Romanov E.A. , Vorobiev V.L. , Mukhgalin V.V. , Kriventsov V.V. , Chukavin A.I. , Robouch B.
Structure and Properties of ZnSxSe1-x Thin Films Deposited by Thermal Evaporation of ZnS and ZnSe Powder Mixtures
Materials Research Express. 2015. V.2. N2. P.025006. DOI: 10.1088/2053-1591/2/2/025006 WOS Scopus РИНЦ

Тезисы докладов (4) Подробнее

1	Кривенцов В.В. , Валеев Р.Г. , Бельтюков А.Н. , Мухгалин В.В. , Романов Э.А. , Максимовский Е.А. , Якимчук Е.П. , Новгородов Б.Н. , Мезенцев Н.А. Исследование полупроводниковых наноматериалов ZnS, ZnSe методом XAFS. В сборнике I Всероссийская научная Интернет - конференция с международным участием «Спектрометрические методы анализа». – Индивидуальный предприниматель Синяев Дмитрий Николаевич., 2013. – C.51. – ISBN 9785906217219. РИНЦ
2	Кривенцов В.В. , Валеев Р.Г. , Бельтюков А.Н. , Мухгалин В.В. , Романов Э.А. , Максимовский Е.А. , Якимчук Е.П. , Новгородов Б.Н. , Мезенцев Н.А. XAFS - исследование наноструктур Ge и GaAs, локализованных в упорядоченных порах оксидного темплата. В сборнике I Всероссийская научная Интернет - конференция с международным участием «Спектрометрические методы анализа». – Индивидуальный предприниматель Синяев Дмитрий Николаевич., 2013. – C.50. – ISBN 9785906217219. РИНЦ
3	Валеев Р.Г. , Кривенцов В.В. , Деев А.Н. , Кобзиев В.Ф. , Мухгалин В.В. EXAFS-исследование локальной структуры нанонитей GaAs, стабилизированных в калиброванных порах оксида алюминия. В сборнике XIX Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения "СИ-2012". 2012. – C.113.
4	Валеев Р.Г. , Кривенцов В.В. , Деев А.Н. , Кобзиев В.Ф. , Мухгалин В.В. Структурное исследование полупроводниковых материалов на основе соединений галлия. В сборнике XIX Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения "СИ-2012". 2012. – C.112.

Доклады на конференциях (4) Подробнее

1	Кривенцов В.В. , Валеев Р.Г. , Бельтюков А.Н. , Мухгалин В.В. , Романов Э.А. , Максимовский Е.А. , Якимчук Е.П. , Новгородов Б.Н. , Мезенцев Н.А. XAFS - исследование наноструктур Ge и GaAs, локализованных в упорядоченных порах оксидного темплата. I Всероссийская научная Интернет - конференция с международным участием «Спектрометрические методы анализа» 26-26 Sep 2013
2	Кривенцов В.В. , Валеев Р.Г. , Бельтюков А.Н. , Мухгалин В.В. , Романов Э.А. , Максимовский Е.А. , Якимчук Е.П. , Новгородов Б.Н. , Мезенцев Н.А. Исследование полупроводниковых наноматериалов ZnS, ZnSe методом XAFS. I Всероссийская научная Интернет - конференция с международным участием «Спектрометрические методы анализа» 26-26 Sep 2013
3	Валеев Р.Г. , Кривенцов В.В. , Деев А.Н. , Кобзиев В.Ф. , Мухгалин В.В. EXAFS-исследование локальной структуры нанонитей GaAs, стабилизированных в калиброванных порах оксида алюминия. XIX Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения "СИ-2012" 25-28 Jun 2012
4	Валеев Р.Г. , Кривенцов В.В. , Деев А.Н. , Кобзиев В.Ф. , Мухгалин В.В. Структурное исследование полупроводниковых материалов на основе соединений галлия. XIX Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения "СИ-2012" 25-28 Jun 2012