Спесивцев Евгений Васильевич | Sciact - CRIS-система Института катализа - публикации, сотрудники

Спесивцев Евгений Васильевич

Аффилиации

#	Название	Период	Количество
1	Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова СО РАН	2009 - 2021	5

Научная деятельность

Статьи в журналах - 4

Статьи в журналах (4) Подробнее

1	Feklistov K.V. , Lemzyakov A.G. , Prosvirin I.P. , Gismatulin A.A. , Shklyaev A.A. , Zhivodkov Y.A. , Krivyakin G.К. , Komonov A.I. , Kozhukhov А. , Spesivsev E.V. , Gulyaev D.V. , Abramkin D.S. , Pugachev A.M. , Esaev D.G. , Sidorov G.Y. Nanowired Structure, Optical Properties and Conduction Band Offset of RF Magnetron-Deposited n-Si\In2O3:Er Films Materials Research Express. 2020. V.7. N12. 125903 :1-11. DOI: 10.1088/2053-1591/abd06b WOS Scopus РИНЦ
2	Perevalov T.V. , Gismatulin A.A. , Seregin D.S. , Wang Y. , Xu H. , Kruchinin V.N. , Spesivcev E.V. , Gritsenko V.A. , Nasyrov K.A. , Prosvirin I.P. , Zhang J. , Vorotilov K.A. , Baklanov M.R. Critical Properties and Charge Transport in Ethylene Bridged Organosilica Low-κ Dielectrics Journal of Applied Physics. 2020. V.127. N19. 195105 :1-12. DOI: 10.1063/1.5145239 WOS Scopus РИНЦ РИНЦ
3	Atuchin V.V. , Kruchinin V.N. , Kalinkin A.V. , Aliev V.S. , Rykhlitskii S.V. , Shvets V.A. , Spesivtsev E.V. Optical Properties of the HfO2 – xNx and TiO2 – xNx Films Prepared by Ion Beam Sputtering Optics and Spectroscopy. 2009. V.106. N1. P.72-77. DOI: 10.1134/S0030400X09010093 WOS Scopus РИНЦ
4	Атучин В.В. , Кручинин В.Н. , Калинкин А.В. , Алиев В.Ш. , Рыхлицкий С.В. , Швец В.А. , Спесивцев Е.В. Оптические свойства пленок HfO(2x)Nx и TiO(2x)Nx, полученных методом ионно-лучевого распыления Оптика и спектроскопия. 2009. Т.106. №1. С.77-82. РИНЦ