Прецизионные рентгенодифракционные исследования поликристаллических материалов на синхротронном излучении Review
Journal |
Журнал структурной химии
ISSN: 0136-7463 |
||
---|---|---|---|
Output data | Year: 2012, Volume: 53, Pages: S137-S154 Pages count : 6 | ||
Tags | СИНХРОТРОННОЕ ИЗЛУЧЕНИЕ, ПОРОШКОВАЯ ДИФРАКТОМЕТРИЯ, АНОМАЛЬНОЕ РАССЕЯНИЕ | ||
Authors |
|
||
Affiliations |
|
Funding (1)
1 | Siberian Branch of the Russian Academy of Sciences |
Abstract:
Обзор посвящен методам применения синхротронного излучения (СИ) для исследования структуры поликристаллических материалов. Основное внимание уделяется аппаратуре и методикам получения прецизионной структурной информации — порошковой дифрактометрии высокого углового разрешения и использованию эффекта аномального рассеяния в структурных исследованиях. Представлены различные схемы регистрации рентгенограмм с высоким разрешением, даны описания дифрактометров, работающих в ведущих синхротронных центрах мира, приведены примеры конкретных исследований.
Cite:
Шмаков А.Н.
Прецизионные рентгенодифракционные исследования поликристаллических материалов на синхротронном излучении
Журнал структурной химии. 2012. Т.53. С.S137-S154. RSCI РИНЦ
Прецизионные рентгенодифракционные исследования поликристаллических материалов на синхротронном излучении
Журнал структурной химии. 2012. Т.53. С.S137-S154. RSCI РИНЦ
Translated:
Shmakov A.N.
High Precision X-Ray Diffraction Studies of Polycrystalline Materials on Synchrotron Radiation
Journal of Structural Chemistry. 2012. V.53. NSupplement. P.S133-S149. DOI: 10.1134/S0022476612070128 WOS Scopus РИНЦ
High Precision X-Ray Diffraction Studies of Polycrystalline Materials on Synchrotron Radiation
Journal of Structural Chemistry. 2012. V.53. NSupplement. P.S133-S149. DOI: 10.1134/S0022476612070128 WOS Scopus РИНЦ
Dates:
Submitted: | Mar 21, 2012 |
Identifiers:
RSCI | RSCI:21506770 |
Elibrary | 21506770 |
Citing:
DB | Citing |
---|---|
Elibrary | 2 |