Моделирование рентгеновских дифракционных картин как метод исследования структуры нанокристаллических материалов Conference attendances
Language | Русский | ||||
---|---|---|---|---|---|
Participant type | Пленарный | ||||
Conference |
Химия под знаком СИГМА: исследования, инновации, технологии : Всероссийская научная молодежная школа-конференция 14-22 May 2012 , Омск |
||||
Authors |
|
||||
Affiliations |
|
Cite:
Черепанова С.В.
Моделирование рентгеновских дифракционных картин как метод исследования структуры нанокристаллических материалов
Химия под знаком СИГМА: исследования, инновации, технологии : Всероссийская научная молодежная школа-конференция 14-22 мая 2012
Моделирование рентгеновских дифракционных картин как метод исследования структуры нанокристаллических материалов
Химия под знаком СИГМА: исследования, инновации, технологии : Всероссийская научная молодежная школа-конференция 14-22 мая 2012