Структурный и микроструктурный анализ ультрадисперсных и частично разупорядоченных материалов с применением моделирования рентгеновской дифракции на дефектных кристаллах Conference attendances
Language | Русский | ||||
---|---|---|---|---|---|
Participant type | Пленарный | ||||
Conference |
Химия под знаком СИГМА: Исследования, Инновации, Технологии : IV Всероссийская научная молодежная школа‐конференция 12-18 May 2014 , Омск |
||||
Authors |
|
||||
Affiliations |
|
Cite:
Черепанова С.В.
Структурный и микроструктурный анализ ультрадисперсных и частично разупорядоченных материалов с применением моделирования рентгеновской дифракции на дефектных кристаллах
Химия под знаком СИГМА: Исследования, Инновации, Технологии : IV Всероссийская научная молодежная школа‐конференция 12-18 мая 2014
Структурный и микроструктурный анализ ультрадисперсных и частично разупорядоченных материалов с применением моделирования рентгеновской дифракции на дефектных кристаллах
Химия под знаком СИГМА: Исследования, Инновации, Технологии : IV Всероссийская научная молодежная школа‐конференция 12-18 мая 2014