Снижение пределов обнаружения при анализе высокочистых веществ методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой | Sciact - CRIS-система Института катализа

Снижение пределов обнаружения при анализе высокочистых веществ методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой Научная публикация

Журнал

Заводская лаборатория. Диагностика материалов
ISSN: 1028-6861

Вых. Данные

Год: 2015, Том: 81, Номер: 1-II, Страницы: 157-160 Страниц : 4

Ключевые слова

атомно-эмиссионный спектральный анализ с индуктивно-связанной плазмой, электротермическое испарение проб, концентрирование примесей, пределы обнаружения аналитов

Авторы

Медведев Н.С. ¹ , Путьмаков А.Н. ² , Шаверина А.В. ¹ , Цыганкова А.Р. ^1,3 , Сапрыкин А.И. ^1,3

Организации

1	ФГБУН Институт неорганической химии им. А.В. Николаева СО РАН, Новосибирск, Россия
2	ФГБУН Институт автоматики и электрометрии СО РАН, Новосибирск, Россия
3	ФГБУ ВПО Новосибирский национальный исследовательский государственный университет, Новосибирск, Россия

Для снижения пределов обнаружения (ПО) примесей при анализе высокочистых веществ методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой (ИСП-АЭС) использовано устройство электротермического испарения (ЭТИ) проб производства ООО «ВМК-Оптоэлектроника». Изучены временные зависимости поступления аналитов в ИСП, выбраны операционные параметры ЭТИ. На примере анализа высокочистого диоксида германия показана эффективность применения устройства ЭТИ, оценены преимущества и недостатки данного способа ввода концентрата примесей в ИСП.

Медведев Н.С. , Путьмаков А.Н. , Шаверина А.В. , Цыганкова А.Р. , Сапрыкин А.И.
Снижение пределов обнаружения при анализе высокочистых веществ методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой
Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2015. Т.81. №1-II. С.157-160. RSCI РИНЦ

Поступила в редакцию:

5 дек. 2014 г.

Russian Science Citation Index (RSCI):	RSCI:23135645
РИНЦ:	23135645

Пока нет цитирований