Реферат: Методами рентгеновской дифрактометрии, сканирующей электронной и просвечивающей электронной микроскопии исследовано строение модельных электродных материалов, широко применяющихся в электрокатализе: платинированной платины, палладированной платины и платинированного золота. Покрытия из дисперсных платины и палладия толщиной менее 1 мкм получали потенцио- и гальваностатическим осаждением из растворов хлоридных комплексных солей. Показано, что параметры решетки дисперсных металлов значительно ниже, чем массивных кристаллов; выявлены некоторые новые тенденции зависимостей структурных параметров от потенциала осаждения. Специальное внимание уделено проблеме надежности определения размеров областей когерентного рассеяния (ОКР) и микроискажений; в этой связи сопоставлены результаты для аппроксимации отражений различными функциями, а также результаты гармонического анализа отражений. Последние использованы также для построения распределений ОКР по размерам, при этом найдено хорошее согласие с полученными ранее для осадков платины данными сканирующей туннельной микроскопии (СТМ). В случае осадков палладия, напротив, найдены более низкие ОКР по сравнению с размерами частиц в наружном слое осадка по данным СТМ. Этот результат интерпретирован в терминах сильного срастания наночастиц палладия. Для определения истинных поверхностей осадков, оценки сплошности покрытия подложки осадком и закономерностей старения платины на золоте в условиях циклирования потенциала применен метод вольтамперометрии.

Библиографическая ссылка: Плясова Л.М. , Молина И.Ю. , Черепанова С.В. , Рудина Н.А. , Шерстюк О.В. , Савинова Е.Р. , Пронькин C.Н. , Цирлина Г.А.
Дисперсные электролитические осадки платины и палладия субмикронных толщин на поликристаллических подложках: Рентгеновская дифрактометрия и микроскопия
Электрохимия. 2002. Т.38. №10. С.1236-1252. РИНЦ

Переводная: Plyasova L.M. , Molina I.Y. , Cherepanova S.V. , Rudina N.A. , Sherstyuk O.V. , Savinova E.R. , Pronkin S.N. , Tsirlina G.A.
Disperse Electrolytic Platinum and Palladium Deposits of Submicron Thickness on Polycrystalline Supports: An X-ray Diffractometry and Microscopy Study
Russian Journal of Electrochemistry. 2002. V.38. N10. P.1116-1131. DOI: 10.1023/A:1020607904477 WOS Scopus РИНЦ CAPlusCA OpenAlex

Идентификаторы БД:

РИНЦ:

44753571

Цитирование в БД:

БД	Цитирований
РИНЦ	1