Sciact
  • EN
  • RU

Morphological Study of the Polymerization of Filled Polyethylene Based on Scanning Electron Microscopy and X-ray Photoelectron Spectroscopy Научная публикация

Журнал Polymer Science U.S.S.R.
ISSN: 0032-3950
Вых. Данные Год: 1985, Том: 27, Номер: 9, Страницы: 2248-2254 Страниц : 7 DOI: 10.1016/0032-3950(85)90513-1
Авторы Semikolenova N.V. 1 , Nesterov G.A. 1 , Kryukova G.N. 1 , Ivanov V.P. 1 , Zakharov V.A. 1
Организации
1 Institute of Catalysis attached to U.S.S.R. Academy of Sciences

Реферат: The formation of a PE film on the surface of catalytic fillers prepared by coating Zr(BH4)4 and Cr(C5H5)2 on tuff and kaolin has been investigated by scanning electron microscopy and X-ray photoelectron spectroscopy. It is shown that the morphology of the filled polymer depends on the structure of the filler particles and on the PE concentration. For a PE concentration of ∼50% in the compositional material practically all of the catalytic filler particles are covered with a PE film of thickness ∼2000 Å. The film thickness the nonuniform and there are regions where it is ⩽300 Å.
Библиографическая ссылка: Semikolenova N.V. , Nesterov G.A. , Kryukova G.N. , Ivanov V.P. , Zakharov V.A.
Morphological Study of the Polymerization of Filled Polyethylene Based on Scanning Electron Microscopy and X-ray Photoelectron Spectroscopy
Polymer Science U.S.S.R.. 1985. V.27. N9. P.2248-2254. DOI: 10.1016/0032-3950(85)90513-1 Scopus РИНЦ OpenAlex
Оригинальная: Семиколенова Н.В. , Нестеров Г.А. , Крюкова Г.Н. , Иванов В.П. , Захаров В.А.
Исследование морфологии полимеризационно-наполненного полиэтилена методами сканирующей электронной микроскопии и рентгенофотоэлектронной спектроскопии
Высокомолекулярные соединения. 1985. Т.27. №9. С.1998-2003. WOS РИНЦ CAPlusCA
Даты:
Поступила в редакцию: 14 мая 1984 г.
Опубликована в печати: 1 сент. 1985 г.
Опубликована online: 11 июн. 2003 г.
Идентификаторы БД:
Scopus: 2-s2.0-0022177074
РИНЦ: 31011576
OpenAlex: W2093509726
Цитирование в БД:
БД Цитирований
Scopus 4
РИНЦ 4
OpenAlex 3
Альметрики: