Sciact
  • EN
  • RU

Raman Spectral Study of CuCrS2 Crystals in the Temperature Range of 5-300 K Научная публикация

Журнал Journal of Structural Chemistry
ISSN: 0022-4766 , E-ISSN: 1573-8779
Вых. Данные Год: 2015, Том: 56, Номер: 5, Страницы: 874-879 Страниц : 6 DOI: 10.1134/S002247661505008X
Ключевые слова layered crystals, low temperatures, Raman spectroscopy
Авторы Selivanova A.V. 1 , Sokolov V.V. 2 , Kolesov B. 1,2
Организации
1 Novosibirsk National Research State University, Russia
2 Nikolaev Institute of Inorganic Chemistry, Siberian Branch, Russian Academy of Sciences, Novosibirsk, Russia

Реферат: The work presents Raman spectra of platelike crystals of the CuCrS2 compound, which were grown from polycrystalline CuCrS2 by the CVD method with an elementary iodine as a carrier. The spectra are measured in the temperature range of 5-300 K. Observed vibrational modes are assigned based on the temperature dependences of their frequencies. In the temperature range of magnetic ordering (Т ≤ 40 K) a weak increase is observed in the frequencies of totally symmetric vibrations, which is interpreted as a result of the phonon-magnon interaction.
Библиографическая ссылка: Selivanova A.V. , Sokolov V.V. , Kolesov B.
Raman Spectral Study of CuCrS2 Crystals in the Temperature Range of 5-300 K
Journal of Structural Chemistry. 2015. V.56. N5. P.874-879. DOI: 10.1134/S002247661505008X WOS Scopus РИНЦ CAPlusCA OpenAlex
Оригинальная: Селиванова А.В. , Соколов В.В. , Колесов Б.А.
КР спектральное исследование кристаллов CuCrS2 в области температур 5-300 K
Журнал структурной химии. 2015. Т.56. №5. С.931-936. DOI: 10.15372/JSC20150508RSCI РИНЦ OpenAlex
Даты:
Поступила в редакцию: 22 сент. 2014 г.
Опубликована в печати: 1 сент. 2015 г.
Опубликована online: 16 дек. 2015 г.
Идентификаторы БД:
Web of science: WOS:000365764600008
Scopus: 2-s2.0-84948389380
РИНЦ: 24974187
Chemical Abstracts: 2015:1923922
Chemical Abstracts (print): 164:268987
OpenAlex: W2430420598
Цитирование в БД:
БД Цитирований
Web of science 3
Scopus 3
OpenAlex 3
Альметрики: