Abstract: В обзоре обсуждаются проблемы рентгеноструктурных исследований ультрадисперсных систем с размерами частиц до 5 нм. Представлен метод моделирования рентгеновских дифракционных картин (Debye Function Analysis—DFA), техника которого основана на расчетах по формуле Дебая в рамках кинематической теории рассеяния рентгеновских лучей. Метод DFA позволяет получить информацию об атомной структуре, форме и размере наночастиц, проверить гипотезы о наличии деформаций, дефектов упаковки и других особенностях строения ультрадисперсных и наноструктурированных систем. Метод применим для моделирования дифракционных картин объектов с произвольной (не обязательно кристаллической) структурой. Приводятся примеры использования метода для исследования структуры широкого круга объектов.

Cite: Цыбуля С.В. , Яценко Д.А.
Рентгеноструктурный анализ ультрадисперсных систем: формула Дебая
Журнал структурной химии. 2012. Т.53. С.S155-S171. RSCI РИНЦ

Translated: Tsybulya S.V. , Yatsenko D.A.
X-Ray Diffraction Analysis of Ultradisperse Systems: The Debye Formula
Journal of Structural Chemistry. 2012. V.53. NSupplement 1. P.S150-S165. DOI: 10.1134/S002247661207013X WOS Scopus РИНЦ ANCAN OpenAlex

Dates:

Submitted:

Mar 21, 2012

Identifiers:

RSCI:	RSCI:21506771
Elibrary:	21506771

Citing:

DB	Citing
Elibrary	13