Sciact
  • EN
  • RU

Инфракрасная термография как бесконтактный метод мониторинга температурного профиля в слое адсорбента Тезисы доклада

Конференция Актуальные проблемы теории адсорбции, пористости и адсорбционной селективности : XV Всероссийский симпозиум с участием иностранных ученых
15-19 апр. 2013 , Москва-Клязьма
Сборник XV Всероссийский симпозиум «Актуальные проблемы теории адсорбции, пористости и адсорбционной селективности» с участием иностранных ученых
Сборник, 2013.
Вых. Данные Год: 2013, Страницы: 38 Страниц : 1
Авторы Мельгунов М.С. , Аюпов А.Б. , Фенелонов В.Б. , Вайнер Б.Г.
Организации
1 Институт катализа им. Г.К. Борескова СО РАН
2 Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова СО РАН
Библиографическая ссылка: Мельгунов М.С. , Аюпов А.Б. , Фенелонов В.Б. , Вайнер Б.Г.
Инфракрасная термография как бесконтактный метод мониторинга температурного профиля в слое адсорбента
В сборнике XV Всероссийский симпозиум «Актуальные проблемы теории адсорбции, пористости и адсорбционной селективности» с участием иностранных ученых. 2013. – C.38.
Идентификаторы БД: Нет идентификаторов
Цитирование в БД: Пока нет цитирований