Структурные аспекты «эффекта памяти » в слоистых двойных гидроксидах, установленные с применением полнопрофильного анализа на основе модели дефектных кристаллов | Sciact - CRIS-система Института катализа

Структурные аспекты «эффекта памяти » в слоистых двойных гидроксидах, установленные с применением полнопрофильного анализа на основе модели дефектных кристаллов Тезисы доклада

Конференция

Химия под знаком СИГМА: Исследования, Инновации, Технологии : IV Всероссийская научная молодежная школа‐конференция
12-18 мая 2014 , Омск

Сборник

Химия под знаком СИГМА: исследования, инновации, технологии. Тезисы докладов IV Всероссийской научной молодежной школы-конференции
Сборник, ИППУ СО РАН. Омск.2014. 380 c. ISBN 9785906376053. РИНЦ

Вых. Данные

Год: 2014, Номер статьи : КД-2-4, Страниц : 2

Авторы

Леонтьева Н.Н. ¹ , Черепанова С.В. ² , Дроздов В.А. ¹ , Бельская О.Б. ¹

Организации

1	Институт проблем переработки углеводородов СО РАН, Нефтезаводская 54, Омск
2	Институт катализа им. Г.К. Борескова СО РАН, пр.Лаврентьева 5, Новосибирск

Леонтьева Н.Н. , Черепанова С.В. , Дроздов В.А. , Бельская О.Б.
Структурные аспекты «эффекта памяти » в слоистых двойных гидроксидах, установленные с применением полнопрофильного анализа на основе модели дефектных кристаллов
В сборнике Химия под знаком СИГМА: исследования, инновации, технологии. Тезисы докладов IV Всероссийской научной молодежной школы-конференции. – ИППУ СО РАН., 2014. – C.49-50. – ISBN 9785906376053.

Нет идентификаторов

Пока нет цитирований