Исследование функциональных наноматериалов методом XAFS спектроскопии (K, L3 - края): применение и методические особенности выполненых работ на станции EXAFS Спектроскопии СЦСТИ Conference Abstracts
| Conference |
XI Всероссийская школа-конференция молодых ученых «КоМУ-2018» 15-19 Oct 2018 , Ижевск |
||
|---|---|---|---|
| Source | XI Всероссийская школа-конференция молодых ученых "КоМУ-2018", г. Ижевск, 15-19 октября 2018 г. Сборник тезисов докладов. Compilation, АНО "Ижевский институт компьютерных исследований". Ижевск:.2018. 120 c. ISBN 9785434405461. РИНЦ |
||
| Output data | Year: 2018, Pages: 6-7 Pages count : 2 | ||
| Authors |
|
||
| Affiliations |
|
Funding (3)
| 1 | Russian Foundation for Basic Research | 16-03-01139 |
| 2 | Russian Foundation for Basic Research | 18-03-01251 |
| 3 | Federal Agency for Scientific Organizations | 0303-2018-0010 |
Cite:
Кривенцов В.В.
Исследование функциональных наноматериалов методом XAFS спектроскопии (K, L3 - края): применение и методические особенности выполненых работ на станции EXAFS Спектроскопии СЦСТИ
In compilation XI Всероссийская школа-конференция молодых ученых "КоМУ-2018", г. Ижевск, 15-19 октября 2018 г. Сборник тезисов докладов.. – АНО "Ижевский институт компьютерных исследований"., 2018. – C.6-7. – ISBN 9785434405461. РИНЦ
Исследование функциональных наноматериалов методом XAFS спектроскопии (K, L3 - края): применение и методические особенности выполненых работ на станции EXAFS Спектроскопии СЦСТИ
In compilation XI Всероссийская школа-конференция молодых ученых "КоМУ-2018", г. Ижевск, 15-19 октября 2018 г. Сборник тезисов докладов.. – АНО "Ижевский институт компьютерных исследований"., 2018. – C.6-7. – ISBN 9785434405461. РИНЦ
Identifiers:
| Elibrary: | 37097822 |
Citing:
Пока нет цитирований