Современная растровая электронная микроскопия для исследования и характеризации материалов Тезисы доклада

Конференция	4 Школа «Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии. Функциональные наноматериалы» 25-29 апр. 2011 , Новосибирск
Сборник	Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии : 4-я Школа, Новосибирск, 25-29 апреля 2011 : Тезисы докладов Сборник, 2011.
Вых. Данные	Год: 2011, Страницы: хх Страниц : 1
Авторы	Саланов А.Н. 1 , Супрун Е.А. 1
Организации	1 Институт катализа им. Г.К. Борескова СО РАН, г. Новосибирск, пр. Ак. Лаврентьева 5, 630090, Россия