Спектроскопические исследования нанопленок ZnS:Cu(Mn);Cl на поверхности пористого оксида алюминия Full article
Journal |
Известия Российской академии наук. Серия физическая
ISSN: 0367-6765 |
||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Output data | Year: 2019, Volume: 83, Number: 2, Pages: 217-222 Pages count : 6 DOI: 10.1134/s0367676519020297 | ||||||||
Authors |
|
||||||||
Affiliations |
|
Funding (1)
1 | Russian Foundation for Basic Research | 16-48-180303 |
Abstract:
Представлены рентгеноэлектронные, XANES- и EXAFS-исследования электронной и локальной атомной структуры нанопленок ZnS:Cu(Mn);Cl, полученных методом вакуумно-термического осаждения на поверхность пористого анодного оксида алюминия. Выявлено отсутствие влияния диаметра пор подложки на локальную атомную структуру и фазовый состав полученных покрытий.
Cite:
Валеев Р.Г.
, Бельтюков А.Н.
, Чукавин А.И.
, Ветошкин В.М.
, Тригуб А.Л.
, Алалыкин А.С.
, Кривенцов В.В.
Спектроскопические исследования нанопленок ZnS:Cu(Mn);Cl на поверхности пористого оксида алюминия
Известия Российской академии наук. Серия физическая. 2019. Т.83. №2. С.217-222. DOI: 10.1134/s0367676519020297 РИНЦ OpenAlex
Спектроскопические исследования нанопленок ZnS:Cu(Mn);Cl на поверхности пористого оксида алюминия
Известия Российской академии наук. Серия физическая. 2019. Т.83. №2. С.217-222. DOI: 10.1134/s0367676519020297 РИНЦ OpenAlex
Translated:
Valeev R.G.
, Beltyukov A.N.
, Chukavin A.I.
, Vetoshkin V.M.
, Trigub A.L.
, Alalykin A.S.
, Kriventsov V.V.
Spectroscopic Analysis of ZnS:Cu(Mn);Cl Nanofilms on Surfaces of Porous Alumina
Bulletin of the Russian Academy of Sciences: Physics. 2019. V.83. N2. P.169-174. DOI: 10.3103/S1062873819020291 Scopus РИНЦ AN OpenAlex
Spectroscopic Analysis of ZnS:Cu(Mn);Cl Nanofilms on Surfaces of Porous Alumina
Bulletin of the Russian Academy of Sciences: Physics. 2019. V.83. N2. P.169-174. DOI: 10.3103/S1062873819020291 Scopus РИНЦ AN OpenAlex
Dates:
Published print: | Feb 1, 2019 |
Identifiers:
Elibrary: | 36887366 |
OpenAlex: | W2911500183 |
Citing:
Пока нет цитирований