Исследование наноразмерных систем сложного состава методом XAFS на станции EXAFS спектроскопии СЦСТИ Conference Abstracts
| Conference |
XXIII Всероссийская конференция (с международным участием) «Рентгеновские и электронные спектры и химическая связь» 01-04 Oct 2019 , Воронеж |
||
|---|---|---|---|
| Source | Рентгеновские и электронные спектры и химическая связь : материалы XXIII Всероссийской конференции с международным участием (Воронеж, 1-4 октября 2019 г.) Compilation, ВГУ. Воронеж.2019. 171 c. ISBN 9785927328833. |
||
| Output data | Year: 2019, Pages: 45 Pages count : 1 | ||
| Authors |
|
||
| Affiliations |
|
Funding (2)
| 1 | Russian Foundation for Basic Research | 18-03-01251 |
| 2 | Siberian Branch of the Russian Academy of Sciences | 230 |
Cite:
Кривенцов В.В.
Исследование наноразмерных систем сложного состава методом XAFS на станции EXAFS спектроскопии СЦСТИ
In compilation Рентгеновские и электронные спектры и химическая связь : материалы XXIII Всероссийской конференции с международным участием (Воронеж, 1-4 октября 2019 г.). – ВГУ., 2019. – C.45. – ISBN 9785927328833.
Исследование наноразмерных систем сложного состава методом XAFS на станции EXAFS спектроскопии СЦСТИ
In compilation Рентгеновские и электронные спектры и химическая связь : материалы XXIII Всероссийской конференции с международным участием (Воронеж, 1-4 октября 2019 г.). – ВГУ., 2019. – C.45. – ISBN 9785927328833.
Identifiers:
No identifiers
Citing:
Пока нет цитирований