Применение метода 1D моделирования рентгенограмм для исследования дефектных кристаллов Тезисы доклада
Конференция |
VI Всероссийская научно молодежная школа-конференция "Химия под знаком СИГМА: исследования, инновации, технологии" 18-20 мая 2020 , Омск |
||||
---|---|---|---|---|---|
Сборник | Химия под знаком СИГМА: исследования, инновации, технологии. VI Всероссийская научная молодёжная школа-конференция [Электронный ресурс] : сборник тезисов докладов Сборник, ИК СО РАН. Новосибирск.2020. 246 c. ISBN 9785906376282. РИНЦ |
||||
Вых. Данные | Год: 2020, Номер статьи : ПР-12, Страниц : 2 | ||||
Авторы |
|
||||
Организации |
|
Информация о финансировании (1)
1 | Федеральное агентство научных организаций России | V.46.2.4 |
Библиографическая ссылка:
Леонтьева Н.Н.
, Черепанова С.В.
, Дроздов В.А.
, Лавренов А.В.
Применение метода 1D моделирования рентгенограмм для исследования дефектных кристаллов
В сборнике Химия под знаком СИГМА: исследования, инновации, технологии. VI Всероссийская научная молодёжная школа-конференция [Электронный ресурс] : сборник тезисов докладов. – ИК СО РАН., 2020. – C.18-19. – ISBN 9785906376282. РИНЦ
Применение метода 1D моделирования рентгенограмм для исследования дефектных кристаллов
В сборнике Химия под знаком СИГМА: исследования, инновации, технологии. VI Всероссийская научная молодёжная школа-конференция [Электронный ресурс] : сборник тезисов докладов. – ИК СО РАН., 2020. – C.18-19. – ISBN 9785906376282. РИНЦ
Идентификаторы БД:
РИНЦ: | 46488158 |
Цитирование в БД:
Пока нет цитирований