Sciact
  • EN
  • RU

Применение метода 1D моделирования рентгенограмм для исследования дефектных кристаллов Тезисы доклада

Конференция VI Всероссийская научно молодежная школа-конференция "Химия под знаком СИГМА: исследования, инновации, технологии"
18-20 мая 2020 , Омск
Сборник Химия под знаком СИГМА: исследования, инновации, технологии. VI Всероссийская научная молодёжная школа-конференция [Электронный ресурс] : сборник тезисов докладов
Сборник, ИК СО РАН. Новосибирск.2020. 246 c. ISBN 9785906376282. РИНЦ
Вых. Данные Год: 2020, Номер статьи : ПР-12, Страниц : 2
Авторы Леонтьева Н.Н 1 , Черепанова С.В. 2 , Дроздов В.А. 1 , Лавренов А.В. 1
Организации
1 Центр новых химических технологий ИК СО РАН, Институт катализа СО РАН, ул. Нефтезаводская, 54, Омск, Россия
2 Институт катализа СО РАН, пр. Академика Лаврентьева, 5, Новосибирск, Россия

Информация о финансировании (1)

1 Федеральное агентство научных организаций России V.46.2.4
Библиографическая ссылка: Леонтьева Н.Н. , Черепанова С.В. , Дроздов В.А. , Лавренов А.В.
Применение метода 1D моделирования рентгенограмм для исследования дефектных кристаллов
В сборнике Химия под знаком СИГМА: исследования, инновации, технологии. VI Всероссийская научная молодёжная школа-конференция [Электронный ресурс] : сборник тезисов докладов. – ИК СО РАН., 2020. – C.18-19. – ISBN 9785906376282. РИНЦ
Идентификаторы БД:
РИНЦ: 46488158
Цитирование в БД: Пока нет цитирований