Исследование дефектной структуры и морфологии наночастиц CdS и Cd1-xMnxS методом рентгеновской дифракции Тезисы доклада
| Конференция |
Методы исследования состава и структуры функциональных материалов : 3-я Всероссийская научная конференция 01-04 сент. 2020 , ИК СО РАН, Новосибирск |
||||
|---|---|---|---|---|---|
| Сборник | Методы исследования состава и структуры функциональных материалов (МИССФМ-3). III Всероссийская конференция (1-4 сентября, 2020 г., Новосибирск) [Электронный ресурс] : Сборник тезисов докладов Сборник, ИК СО РАН. Новосибирск.2020. 456 c. ISBN 978-5-906376-29-9. РИНЦ |
||||
| Вых. Данные | Год: 2020, Номер статьи : УД-IV-2, Страниц : 2 | ||||
| Авторы |
|
||||
| Организации |
|
Информация о финансировании (1)
| 1 | Совет по грантам Президента Российской Федерации | МД-79.2020.3 |
Библиографическая ссылка:
Евтушок Б.Ю.
, Черепанова С.В.
, Козлова Е.А.
Исследование дефектной структуры и морфологии наночастиц CdS и Cd1-xMnxS методом рентгеновской дифракции
В сборнике Методы исследования состава и структуры функциональных материалов (МИССФМ-3). III Всероссийская конференция (1-4 сентября, 2020 г., Новосибирск) [Электронный ресурс] : Сборник тезисов докладов. – ИК СО РАН., 2020. – C.111-112. – ISBN 978-5-906376-29-9.
Исследование дефектной структуры и морфологии наночастиц CdS и Cd1-xMnxS методом рентгеновской дифракции
В сборнике Методы исследования состава и структуры функциональных материалов (МИССФМ-3). III Всероссийская конференция (1-4 сентября, 2020 г., Новосибирск) [Электронный ресурс] : Сборник тезисов докладов. – ИК СО РАН., 2020. – C.111-112. – ISBN 978-5-906376-29-9.
Идентификаторы БД:
Нет идентификаторов
Цитирование в БД:
Пока нет цитирований