Sciact
  • EN
  • RU

Study of Alumina-Containing Systems Using X-Ray Diffraction Methods Тезисы доклада

Конференция The Conference and School for Young Scientists High-temperature X-ray Diffraction and X-ray Diffraction of Nanomaterials
19-21 окт. 2020 , Санкт-Петербург
Сборник Конференция и школа для молодых ученых Терморентгенография и Рентгенография Наноматериалов (ТРРН-4) (Сборник тезисов)
Сборник, Санкт-Петербург.2020. 126 c. ISBN 9785965105595. РИНЦ
Вых. Данные Год: 2020, Страницы: 78 Страниц : 1
Авторы Shefer K.I. 1,2
Организации
1 Boreskov Institute of Catalysis, Siberian Branch of Russian Academy of Sciences, Novosibirsk, Russia, 630090, Lavrentiev Ave. 5, Novosibirsk, Russia.
2 Novosibirsk State University, 630090, Pirogova str. 2, Novosibirsk, Russia.

Информация о финансировании (2)

1 Федеральное агентство научных организаций России 0303-2016-0002
2 Российский фонд фундаментальных исследований 19-03-00595
Библиографическая ссылка: Shefer K.I.
Study of Alumina-Containing Systems Using X-Ray Diffraction Methods
В сборнике Конференция и школа для молодых ученых Терморентгенография и Рентгенография Наноматериалов (ТРРН-4) (Сборник тезисов). 2020. – C.78. – ISBN 9785965105595. РИНЦ
Идентификаторы БД:
РИНЦ: 44088500
Цитирование в БД: Пока нет цитирований