Study of Alumina-Containing Systems Using X-Ray Diffraction Methods Тезисы доклада
| Конференция |
The Conference and School for Young Scientists High-temperature X-ray Diffraction and X-ray Diffraction of Nanomaterials 19-21 окт. 2020 , Санкт-Петербург |
||||
|---|---|---|---|---|---|
| Сборник | Конференция и школа для молодых ученых Терморентгенография и Рентгенография Наноматериалов (ТРРН-4) (Сборник тезисов) Сборник, Санкт-Петербург.2020. 126 c. ISBN 9785965105595. РИНЦ |
||||
| Вых. Данные | Год: 2020, Страницы: 78 Страниц : 1 | ||||
| Авторы |
|
||||
| Организации |
|
Информация о финансировании (2)
| 1 | Федеральное агентство научных организаций России | 0303-2016-0002 |
| 2 | Российский фонд фундаментальных исследований | 19-03-00595 |
Библиографическая ссылка:
Shefer K.I.
Study of Alumina-Containing Systems Using X-Ray Diffraction Methods
В сборнике Конференция и школа для молодых ученых Терморентгенография и Рентгенография Наноматериалов (ТРРН-4) (Сборник тезисов). 2020. – C.78. – ISBN 9785965105595. РИНЦ
Study of Alumina-Containing Systems Using X-Ray Diffraction Methods
В сборнике Конференция и школа для молодых ученых Терморентгенография и Рентгенография Наноматериалов (ТРРН-4) (Сборник тезисов). 2020. – C.78. – ISBN 9785965105595. РИНЦ
Идентификаторы БД:
| РИНЦ: | 44088500 |
Цитирование в БД:
Пока нет цитирований