Эффекты подзарядки поверхности диэлектрических порошков при исследовании методом ФЭС с применением СИ | Sciact - CRIS-система Института катализа

Эффекты подзарядки поверхности диэлектрических порошков при исследовании методом ФЭС с применением СИ Тезисы доклада

Конференция

XX Всероссийская конференция «Рентгеновские и электронные спектры и химическая связь»
24-27 мая 2010 , Новосибирск

Сборник

XX Всероссийская конференция «Рентгеновские и электронные спектры и химическая связь», РЭСХС-2010. Сборник тезисов докладов.
Сборник, ИК СО РАН. Новосибирск.2010. 270 c. РИНЦ

Вых. Данные

Год: 2010, Номер статьи : СД-4-5, Страниц : 1

Авторы

Гуляев Р.В. ¹ , Стадниченко А.И. ^1,2 , Кощеев С.В. ¹ , Боронин А.И. ^1,2

Организации

1	Институт катализа им. Г.К. Борескова СО РАН, Новосибирск, пр-т Ак. Лаврентьева, 5
2	Новосибирский государственный университет, Новосибирск, ул. Пирогова, 2

Информация о финансировании (1)

Helmholtz-Centre Berlin for Materials and Energy BESSY

2010_1_91049

Гуляев Р.В. , Стадниченко А.И. , Кощеев С.В. , Боронин А.И.
Эффекты подзарядки поверхности диэлектрических порошков при исследовании методом ФЭС с применением СИ
В сборнике XX Всероссийская конференция «Рентгеновские и электронные спектры и химическая связь», РЭСХС-2010. Сборник тезисов докладов.. – ИК СО РАН., 2010. – C.173.

Нет идентификаторов

Пока нет цитирований