Исследование наноструктур ZnSxSe1–x@Al2O3 методами рентгеновской дифракции и EXAFS спектроскопии | Sciact - CRIS-система Института катализа

Исследование наноструктур ZnSxSe1–x@Al2O3 методами рентгеновской дифракции и EXAFS спектроскопии Научная публикация

Журнал

Журнал структурной химии
ISSN: 0136-7463

Вых. Данные

Год: 2017, Том: 58, Номер: 6, Страницы: 1285-1294 Страниц : 10 DOI: 10.15372/JSC20170623

Ключевые слова

ZnSxSe1–x, наноструктуры, EXAFS, рентгеновская дифракция, нанопористый анодный оксид алюминия, термическое напыление

Авторы

Чукавин А.И. ¹ , Валеев Р.Г. ¹ , Зубавичус Я.В. ² , Тригуб А.Л. ^1,2 , Бельтюков А.Н. ¹

Организации

1	Физико-технический институт УрО РАН
2	Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт"

Нанокомпозитные системы на основе тройных полупроводниковых соединений ZnSxSe1–x различного состава (x = 0, 0,3, 0,5, 0,7, 1) в диэлектрических матрицах нанопористого анодного оксида алюминия (ААО) были синтезированы методом высоковакуумного термического распыления смеси порошков сульфида и селенида цинка. Исследовано влияние атомной концентрации твердых растворов и структурных параметров матрицы-темплата ААО на кристаллическую структуру синтезированных нанокомпозитов и локальное атомное окружение атомов Zn и Se.

Чукавин А.И. , Валеев Р.Г. , Зубавичус Я.В. , Тригуб А.Л. , Бельтюков А.Н.
Исследование наноструктур ZnSxSe1–x@Al2O3 методами рентгеновской дифракции и EXAFS спектроскопии
Журнал структурной химии. 2017. Т.58. №6. С.1285-1294. DOI: 10.15372/JSC20170623 РИНЦ OpenAlex

Chukavin A.I. , Valeev R.G. , Zubavichus Y.V. , Trigub A.L. , Beltyukov A.N.
Study of the ZnSxSe1–x@Al2O3 Nanostructures by X-ray Diffraction and EXAFS Spectroscopy
Journal of Structural Chemistry. 2017. V.58. N6. P.1236-1244. DOI: 10.1134/s0022476617060233 WOS Scopus РИНЦ OpenAlex

Поступила в редакцию:	8 дек. 2016 г.
Принята к публикации:	21 апр. 2017 г.
Опубликована в печати:	1 июл. 2017 г.

РИНЦ:	29999914
OpenAlex:	W4236149395

БД	Цитирований
OpenAlex	1