Sciact
  • EN
  • RU

Self-Aligned Single-Exposure Deep X-ray Lithography Научная публикация

Конференция International Conference "Synchrotron and Free electron laser Radiation: generation and application"
13-17 июл. 2020 , Novosibirsk
Журнал AIP Conference Proceedings
ISSN: 0094-243X , E-ISSN: 1551-7616
Вых. Данные Год: 2020, Том: 2299, Номер статьи : 060010, Страниц : 7 DOI: 10.1063/5.0030469
Авторы Nazmov V.P. 1,2 , Goldenberg B.G. 1 , Reznikova E.F. 1 , Boerner M. 3
Организации
1 Budker Institute of Nuclear Physics of the Siberian Branch of the Russian Academy of Sciences
2 Institute of solid state chemistry and mechanochemistry of the Siberian Branch of the Russian Academy of Sciences
3 Karlsruhe Institute of Technology, Campus North, Institute of Microstructure Technology

Реферат: The method of deep X-ray lithography has been developed, which allows the formation of self-aligned microstructures. Examples of microstructures are presented. © 2020 American Institute of Physics Inc. All rights reserved.
Библиографическая ссылка: Nazmov V.P. , Goldenberg B.G. , Reznikova E.F. , Boerner M.
Self-Aligned Single-Exposure Deep X-ray Lithography
AIP Conference Proceedings. 2020. V.2299. 060010 :1-7. DOI: 10.1063/5.0030469 Scopus РИНЦ CAPlus OpenAlex
Файлы: Полный текст от издателя
Даты:
Опубликована online: 17 нояб. 2020 г.
Идентификаторы БД:
Scopus: 2-s2.0-85096495955
РИНЦ: 45130388
Chemical Abstracts: 2021:1075021
OpenAlex: W3106061492
Цитирование в БД:
БД Цитирований
Scopus 4
OpenAlex 4
Альметрики: