Self-Aligned Single-Exposure Deep X-ray Lithography Научная публикация
Конференция |
International Conference "Synchrotron and Free electron laser Radiation: generation and application" 13-17 июл. 2020 , Novosibirsk |
||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|
Журнал |
AIP Conference Proceedings
ISSN: 0094-243X , E-ISSN: 1551-7616 |
||||||
Вых. Данные | Год: 2020, Том: 2299, Номер статьи : 060010, Страниц : 7 DOI: 10.1063/5.0030469 | ||||||
Авторы |
|
||||||
Организации |
|
Реферат:
The method of deep X-ray lithography has been developed, which allows the formation of self-aligned microstructures. Examples of microstructures are presented. © 2020 American Institute of Physics Inc. All rights reserved.
Библиографическая ссылка:
Nazmov V.P.
, Goldenberg B.G.
, Reznikova E.F.
, Boerner M.
Self-Aligned Single-Exposure Deep X-ray Lithography
AIP Conference Proceedings. 2020. V.2299. 060010 :1-7. DOI: 10.1063/5.0030469 Scopus РИНЦ CAPlus OpenAlex
Self-Aligned Single-Exposure Deep X-ray Lithography
AIP Conference Proceedings. 2020. V.2299. 060010 :1-7. DOI: 10.1063/5.0030469 Scopus РИНЦ CAPlus OpenAlex
Файлы:
Полный текст от издателя
Даты:
Опубликована online: | 17 нояб. 2020 г. |
Идентификаторы БД:
Scopus: | 2-s2.0-85096495955 |
РИНЦ: | 45130388 |
Chemical Abstracts: | 2021:1075021 |
OpenAlex: | W3106061492 |