Исследование отражательных характеристик кристаллов и МРЗ в мягком рентгеновском диапазоне | Sciact - CRIS-система Института катализа

Исследование отражательных характеристик кристаллов и МРЗ в мягком рентгеновском диапазоне Тезисы доклада

Конференция

Нанофизика и наноэлектроника. XXIII Международный симпозиум
11-14 мар. 2019 , Нижний Новгород

Сборник

Нанофизика и наноэлектроника Труды XXII международного симпозиума. Том 1. Секции 1, 2, 4, 5
Сборник, 2019.

Вых. Данные

Год: 2019, Страницы: 465-466 Страниц : 2

Авторы

Заверткин Павел Сергеевич ¹ , Ивлюшкин Денис Валерьевич ¹ , Николенко Антон Дмитриевич ¹ , Чхало Николай Иванович ²

Организации

1	Институт ядерной физики СО РАН, пр-т Лаврентьева, 11, Новосибирск, Россия
2	Институт физики микроструктур РАН, ул. Академическая, д.7, Нижний Новгород, 607680

Заверткин П.С. , Ивлюшкин Д.В. , Николенко А.Д. , Чхало Н.И.
Исследование отражательных характеристик кристаллов и МРЗ в мягком рентгеновском диапазоне
В сборнике Нанофизика и наноэлектроника Труды XXII международного симпозиума. Том 1. Секции 1, 2, 4, 5. 2019. – C.465-466.

Нет идентификаторов

Пока нет цитирований