Реферат: В рентгеновской микроскопии толщина и структура сцинтилляционных экранов играет очень важную роль. Толщина сцинтиллятора должна быть достаточной для обеспечения максимальной трансформации рентгеновских квантов в видимый диапазон электромагнитного излучения. С другой стороны, рассеяние света в сцинтилляторе приводит к значительному ухудшению пространственного разрешения получаемых рентгеновских изображений. Для улучшения разрешения можно использовать структурирование слоя CsI:Tl на матрицу микропикселей за счет ограничения распространения света в соседние ячейки. В данной работе исследуется радиационно-индуцированная абляция CsI:Tl на источнике синхротронного излучения (СИ) как новый способ структурирования сцинтилляционных экранов.

Библиографическая ссылка: Лемзяков А.Г. , Лях В.В. , Гольденберг Б.Г. , Назьмов В.П. , Козырев Е.А.
Экспериментальное исследование радиационно-индуцированного испарения иодида цезия на источнике синхротронного излучения ВЭПП-3
Известия Российской академии наук. Серия физическая. 2019. Т.83. №2. С.274-277. DOI: 10.1134/S0367676519020200 РИНЦ OpenAlex

Переводная: Lemzyakov A.G. , Lyakh V.V. , Goldenberg B.G. , Nazmov V.P. , Kozyrev E.A.
Experimental Study of Radiation-Induced Evaporation of Cesium Iodide on VEPP-3 Synchrotron Radiation Source
Bulletin of the Russian Academy of Sciences: Physics. 2019. V.83. N2. P.225-227. DOI: 10.3103/s1062873819020205 Scopus РИНЦ CAPlus OpenAlex

Даты:

Опубликована в печати:

1 февр. 2019 г.

Идентификаторы БД:

РИНЦ:	36887379
OpenAlex:	W2914814549

Цитирование в БД: Пока нет цитирований

Альметрики: