Исследование особенностей структуры высокодисперсного NiO-SiO2 катализатора рентгенографическим методом анализа функции распределения атомных пар | Sciact - CRIS-system of Boreskov Institute of Catalysis

Исследование особенностей структуры высокодисперсного NiO-SiO2 катализатора рентгенографическим методом анализа функции распределения атомных пар Full article

Journal

Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования
ISSN: 1028-0960 , E-ISSN: 0207-3528

Output data

Year: 2024, Number: 6, Pages: 23-30 Pages count : 8 DOI: 10.31857/S1028096024060039

Tags

structure, defects, radial atomic pair distribution method, diffraction, nickel oxide, synchrotron radiation, modeling, структура, дефекты, метод радиального распределения атомных пар, дифракция, оксид никеля, синхротронное излучение, моделирование

Authors

Михненко М.Д. ^1,2 , Черепанова С.В. ¹ , Шмаков А.Н. ^1,3 , Алексеева М.В. ¹ , Кукушкин Р.Г. ¹ , Яковлев В.А. ¹ , Пахарукова В.П. ^1,2 , Булавченко О.А. ^1,2

Affiliations

1	ФИЦ “Институт катализа им. Г.К. Борескова” СО РАН, Новосибирск, 630090 Россия
2	Новосибирский Национальный Исследовательский Государственный Университет, Новосибирск, 630090 Россия
3	ЦКП “СКИФ”, Институт катализа им. Г.К. Борескова, Кольцово, 630559 Россия

Funding (1)

Ministry of Science and Higher Education of the Russian Federation

FWUR-2024-0032

В настоящей работе были исследованы NiO и NiO-SiO2 методами рентгеновской дифракции и радиального распределения атомных пар. Методом рентгенофазового анализа было определено, что размеры частиц NiO имеют область когерентного рассеяния более 100 нм, в то время как у образца NiO-SiO2 размеры частиц около 2-3 нм. Однако полнопрофильное моделирование методом Ритвельда не позволило описать эффекты, наблюдаемые при дифракции: асимметрию пиков, появление дополнительного “плеча” пика 111 в области малых углов, поэтому для анализа структуры применяли метод радиального распределения атомных пар. В ходе моделирования экспериментальной кривой радиального распределения атомных пар использовали 3 различных модели: чистый NiO, смесь NiO и Ni2SiO4, а также модифицированная модель NiO с встраиванием Si в кристаллическую решетку. Последняя модель была создана на основе предположения о встраивании кремния в структуру NiO, о чем могут говорить данные рентгеновской дифракции. По результатам моделирования кривой радиального распределения атомных пар именно последняя модель дает наилучшее описание наблюдаемых эффектов: существенно увеличенный параметр элементарной ячейки, в сравнении с образцом без добавления SiO2, а также уменьшенные расстояния катион-кислород в структуре, в то время как расстояния между катионами увеличены.

Михненко М.Д. , Черепанова С.В. , Шмаков А.Н. , Алексеева М.В. , Кукушкин Р.Г. , Яковлев В.А. , Пахарукова В.П. , Булавченко О.А.
Исследование особенностей структуры высокодисперсного NiO-SiO2 катализатора рентгенографическим методом анализа функции распределения атомных пар
Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2024. №6. С.23-30. DOI: 10.31857/S1028096024060039 РИНЦ OpenAlex

Submitted:	Dec 30, 2023
Accepted:	Feb 18, 2024

Elibrary:	71601850
OpenAlex:	W4403427787

Пока нет цитирований