Применение электронной микроскопии в качестве комплементарного метода в синхротронных исследованиях функциональных материалов | Sciact - CRIS-system of Boreskov Institute of Catalysis

Применение электронной микроскопии в качестве комплементарного метода в синхротронных исследованиях функциональных материалов Conference Abstracts

Conference

III Школа молодых ученых по синхротронным методам исследования в материаловедении
28-30 Oct 2024 , Новосибирск

Source

III Школа молодых ученых по синхротронным методам исследования в материаловедении (28–30 октября 2024 г., Новосибирск, Россия) : Сборник тезисов
Compilation, НГУ. Новосибирск.2024. 106 c. ISBN 978-5-4437-1692-3. РИНЦ

Output data

Year: 2024, Pages: 10 Pages count : 1

Authors

Герасимов Е. Ю. ¹

Affiliations

1	ИК СО РАН, г.Новосибирск, пр. Ак. Лаврентьева 5

Герасимов Е. .
Применение электронной микроскопии в качестве комплементарного метода в синхротронных исследованиях функциональных материалов
In compilation III Школа молодых ученых по синхротронным методам исследования в материаловедении (28–30 октября 2024 г., Новосибирск, Россия) : Сборник тезисов. – НГУ., 2024. – C.10. – ISBN 978-5-4437-1692-3. РИНЦ

Elibrary:

82413107

Пока нет цитирований