Исследование возможностей определения легких элементов в растениях методом рентгенофлуоресцентного анализа на синхротронном излучении на «Технологической станции СИ» ВЭПП-4М | Sciact - CRIS-система Института катализа

Исследование возможностей определения легких элементов в растениях методом рентгенофлуоресцентного анализа на синхротронном излучении на «Технологической станции СИ» ВЭПП-4М Научная публикация

Журнал

Известия Российской академии наук. Серия физическая
ISSN: 0367-6765

Вых. Данные

Год: 2025, Том: 89, Номер: 9, Страницы: 1396–1403 Страниц : 8 DOI: 10.7868/S30346460525090073

Ключевые слова

рентгенофлуоресцентный анализ, синхротронное излучение, микроэлементы; X-ray fluorescence analysis, synchrotron radiation, microelements

Авторы

Гольденберг Б.Г. ^1,2 , Гусев И.С. ^1,2 , Копалкин И.П. ¹ , Легкодымов А.А. ^1,2 , Колмогоров Ю.П. ³ , Пиминов П.А. ¹ , Симонов Е.А. ¹ , Амброс Е.В. ⁴

Организации

1	Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт ядерной физики имени Г.И. Будкера Сибирского отделения Российской академии наук, Новосибирск, Россия
2	Центр коллективного пользования «Сибирский кольцевой источник фотонов (СКИФ)», Федеральное государственное бюджетное учреждение науки «Федеральный исследовательский центр «Институт катализа имени Г.К. Борескова Сибирского отделения Российской академии наук», Кольцово, Россия
3	Федеральное государственное бюджетное учреждение науки «Институт геологии и минералогии имени В.С. Соболева Сибирского отделения Российской академии наук», Новосибирск, Россия
4	Федеральное государственное бюджетное учреждение науки «Центральный сибирский ботанический сад Сибирского отделения Российской академии наук», Новосибирск, Россия

Информация о финансировании (2)

1	Министерство науки и высшего образования Российской Федерации (с 15 мая 2018)	ГЗ-2024-2028
2	Министерство науки и высшего образования Российской Федерации (с 15 мая 2018)

Рассматривается расширение возможностей рентгенофлуоресцентного элементного анализа на синхротронном излучении в ИЯФ СО РАН с целью детектирования легких элементов. Для этого была проведена модернизация оборудования и программного обеспечения «Технологи ческой станции» на накопителе ВЭПП-4М. Описана экспериментальная установка, обоснован выбор параметров эксперимента, приведены оценки минимального предела обнаружения для Al, Si, P, S, Cl.

Гольденберг Б.Г. , Гусев И.С. , Копалкин И.П. , Легкодымов А.А. , Колмогоров Ю.П. , Пиминов П.А. , Симонов Е.А. , Амброс Е.В.
Исследование возможностей определения легких элементов в растениях методом рентгенофлуоресцентного анализа на синхротронном излучении на «Технологической станции СИ» ВЭПП-4М
Известия Российской академии наук. Серия физическая. 2025. Т.89. №9. С.1396–1403. DOI: 10.7868/S30346460525090073 СКИФ ID

Поступила в редакцию:	28 окт. 2024 г.
Принята к публикации:	23 мая 2025 г.
Опубликована online:	31 дек. 2025 г.

СКИФ ID:

4242

Пока нет цитирований