Простая оптическая схема с алмазным кристаллом-монохроматором для рентгеновской спектромикроскопии | Sciact - CRIS-система Института катализа

Простая оптическая схема с алмазным кристаллом-монохроматором для рентгеновской спектромикроскопии Научная публикация

Журнал

Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования
ISSN: 1028-0960 , E-ISSN: 0207-3528

Вых. Данные

Год: 2025, Номер: 9, Страницы: 3-11 Страниц : 9

Ключевые слова

синхротронное излучение, ондуляторное излучение, спектроскопия, микроскопия, тонкая структура спектров поглощения излучения вблизи края, рентгеновский флуоресцентный анализ, микрозонд, алмазный монохроматор, прорезной монохроматор, тепловые нагрузки, термоиндуцированные деформации; synchrotron radiation, undulator radiation, spectromicroscopy, X-ray Absorption Near Edge Structure, X-ray Fluorescence, microprobe, diamond monochromator, channel-cut monochromator, thermal loads, thermally induced deformations

Авторы

Хомяков Ю.В. ^1,2 , Горбачев М.В. ³ , Чернов В.А. ¹ , Дарьин Ф.А. ² , Ракшун Я.В. ^1,4

Организации

1	Институт ядерной физики им. Г.И. Будкера СО РАН, Новосибирск, 630090 Россия
2	Центр коллективного пользования “Сибирский кольцевой источник фотонов”, Кольцово, 630559, Россия
3	Новосибирский государственный технический университет, Новосибирск, 630073 Россия
4	Институт геологии и минералогии им. В.С. Соболева СО РАН, Новосибирск, 630090 Россия

Информация о финансировании (1)

Министерство науки и высшего образования Российской Федерации (с 15 мая 2018)

FWUR-2024-0042

Предложена концепция ондуляторной станции на источнике синхротронного излучения для осуществления исследований с использованием сочетания методов конфокальной рентгеновской флуоресцентной микроскопии (Confocal μXRF) и микроскопии с поточечным анализом тонкой структуры спектров поглощения рентгеновского излучения вблизи края (μXANES). Оптическая схема станции основана на применении компактного алмазного прорезного монохроматора (channel-cut) вблизи фокуса пучка ондуляторного излучения. Проведены оценка тепловой нагрузки на алмазный монохроматор и моделирование стационарного распределения температур и термоиндуцированных деформаций кристалла в условиях его водяного охлаждения. Показано, что в режиме с максимальной тепловой нагрузкой на монохроматор разброс углов деформированной поверхности первой ламели кристалла существенно меньше разброса углов сходящегося пучка ондуляторного излучения, его углового размера на образце и ширины кривой качания кристалла. Оценено энергетическое разрешение алмазного монохроматора С(111) с учетом сходимости пучка излучения и разницы температур ламелей кристалла. Результаты расчетов свидетельствуют о возможности применения алмазного монохроматора вблизи фокуса мощного ондуляторного пучка на источнике синхротронного излучения четвертого поколения и, следовательно, о реализуемости предложенной схемы.

Хомяков Ю.В. , Горбачев М.В. , Чернов В.А. , Дарьин Ф.А. , Ракшун Я.В.
Простая оптическая схема с алмазным кристаллом-монохроматором для рентгеновской спектромикроскопии
Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2025. №9. С.3-11. СКИФ ID

Поступила в редакцию:	12 дек. 2024 г.
Принята к публикации:	10 янв. 2025 г.

СКИФ ID:

4247

Пока нет цитирований