Structural Studies of Nanomaterials by the Radial Electron Density Distribution Method with the Use of Synchrotron Radiation in Transmission Mode Научная публикация
Журнал |
Journal of Structural Chemistry
ISSN: 0022-4766 , E-ISSN: 1573-8779 |
||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|
Вых. Данные | Год: 2015, Том: 56, Номер: 6, Страницы: 1076-1083 Страниц : 8 DOI: 10.1134/S0022476615060086 | ||||||
Ключевые слова | local structure, nanocrystalline materials, radial electron density distribution, synchrotron radiation, X-ray diffraction | ||||||
Авторы |
|
||||||
Организации |
|
Информация о финансировании (1)
1 | Российский научный фонд | 14-23-00037 |
Реферат:
The efficiency of the application of the transmission X-ray diffraction technique implemented with the use of the VEPP-3 synchrotron radiation source to obtain functions of the radial electron density distribution (REDD) is shown. By the example of a poorly crystallized sample of cerium oxalate the possibilities of the obtained REDD functions in the structural diagnostics of X-ray amorphous materials are demonstrated: the oxalate phase is detected, the features of the local structure are revealed, and the size of the atomic ordering region is determined
Библиографическая ссылка:
Ancharova U.V.
, Pakharukova V.P.
, Matvienko A.A.
, Tsybulya S.V.
Structural Studies of Nanomaterials by the Radial Electron Density Distribution Method with the Use of Synchrotron Radiation in Transmission Mode
Journal of Structural Chemistry. 2015. V.56. N6. P.1076-1083. DOI: 10.1134/S0022476615060086 WOS Scopus РИНЦ CAPlus OpenAlex
Structural Studies of Nanomaterials by the Radial Electron Density Distribution Method with the Use of Synchrotron Radiation in Transmission Mode
Journal of Structural Chemistry. 2015. V.56. N6. P.1076-1083. DOI: 10.1134/S0022476615060086 WOS Scopus РИНЦ CAPlus OpenAlex
Оригинальная:
Анчарова У.В.
, Пахарукова В.П.
, Матвиенко А.А.
, Цыбуля С.В.
Структурные исследования наноматериалов методом радиального распределения электронной плотности с использованием просвечивающей дифрактометрии на синхротронном излучении
Журнал структурной химии. 2015. Т.56. №6. С.1129-1136. DOI: 10.15372/JSC20150608RSCI РИНЦ OpenAlex
Структурные исследования наноматериалов методом радиального распределения электронной плотности с использованием просвечивающей дифрактометрии на синхротронном излучении
Журнал структурной химии. 2015. Т.56. №6. С.1129-1136. DOI: 10.15372/JSC20150608RSCI РИНЦ OpenAlex
Даты:
Поступила в редакцию: | 20 окт. 2014 г. |
Опубликована в печати: | 1 нояб. 2015 г. |
Опубликована online: | 23 янв. 2016 г. |
Идентификаторы БД:
Web of science: | WOS:000368734000008 |
Scopus: | 2-s2.0-84955447371 |
РИНЦ: | 26843735 |
Chemical Abstracts: | 2016:130512 |
OpenAlex: | W2293084509 |