Sciact
  • EN
  • RU

Structural Studies of Nanomaterials by the Radial Electron Density Distribution Method with the Use of Synchrotron Radiation in Transmission Mode Научная публикация

Журнал Journal of Structural Chemistry
ISSN: 0022-4766 , E-ISSN: 1573-8779
Вых. Данные Год: 2015, Том: 56, Номер: 6, Страницы: 1076-1083 Страниц : 8 DOI: 10.1134/S0022476615060086
Ключевые слова local structure, nanocrystalline materials, radial electron density distribution, synchrotron radiation, X-ray diffraction
Авторы Ancharova U.V. 1 , Pakharukova V.P. 2,3 , Matvienko A.A. 1,3 , Tsybulya S.V. 2,3
Организации
1 Institute of Solid State Chemistry and Mechanochemistry, Siberian Branch, Russian Academy of Sciences, Novosibirsk, Russia;
2 Boreskov Institute of Catalysis, Siberian Branch, Russian Academy of Sciences, Novosibirsk, Russia
3 Novosibirsk National State Research University, Russia

Информация о финансировании (1)

1 Российский научный фонд 14-23-00037

Реферат: The efficiency of the application of the transmission X-ray diffraction technique implemented with the use of the VEPP-3 synchrotron radiation source to obtain functions of the radial electron density distribution (REDD) is shown. By the example of a poorly crystallized sample of cerium oxalate the possibilities of the obtained REDD functions in the structural diagnostics of X-ray amorphous materials are demonstrated: the oxalate phase is detected, the features of the local structure are revealed, and the size of the atomic ordering region is determined
Библиографическая ссылка: Ancharova U.V. , Pakharukova V.P. , Matvienko A.A. , Tsybulya S.V.
Structural Studies of Nanomaterials by the Radial Electron Density Distribution Method with the Use of Synchrotron Radiation in Transmission Mode
Journal of Structural Chemistry. 2015. V.56. N6. P.1076-1083. DOI: 10.1134/S0022476615060086 WOS Scopus РИНЦ CAPlus OpenAlex
Оригинальная: Анчарова У.В. , Пахарукова В.П. , Матвиенко А.А. , Цыбуля С.В.
Структурные исследования наноматериалов методом радиального распределения электронной плотности с использованием просвечивающей дифрактометрии на синхротронном излучении
Журнал структурной химии. 2015. Т.56. №6. С.1129-1136. DOI: 10.15372/JSC20150608RSCI РИНЦ OpenAlex
Даты:
Поступила в редакцию: 20 окт. 2014 г.
Опубликована в печати: 1 нояб. 2015 г.
Опубликована online: 23 янв. 2016 г.
Идентификаторы БД:
Web of science: WOS:000368734000008
Scopus: 2-s2.0-84955447371
РИНЦ: 26843735
Chemical Abstracts: 2016:130512
OpenAlex: W2293084509
Цитирование в БД:
БД Цитирований
Web of science 4
Scopus 3
РИНЦ 2
OpenAlex 3
Альметрики: