Возможности XAFS спектроскопии для исследования функциональных наноматериалов, на примере работ, выполненных на УНУ станция EXAFS спектроскопии СЦСТИ - Доклады на конференциях | Sciact - CRIS-система Института катализа

Возможности XAFS спектроскопии для исследования функциональных наноматериалов, на примере работ, выполненных на УНУ станция EXAFS спектроскопии СЦСТИ Доклады на конференциях

Язык

Русский

Тип доклада

Устный

Конференция

Методы исследования состава и структуры функциональных материалов : 3-я Всероссийская научная конференция
01-04 сент. 2020 , ИК СО РАН, Новосибирск

Авторы

Кривенцов Владимир Владимирович ^1,2

Организации

1	Институт катализа им. Г.К. Борескова СО РАН
2	Институт ядерной физики имени Г.И. Будкера СО РАН

Кривенцов В.В.
Возможности XAFS спектроскопии для исследования функциональных наноматериалов, на примере работ, выполненных на УНУ станция EXAFS спектроскопии СЦСТИ
Методы исследования состава и структуры функциональных материалов : 3-я Всероссийская научная конференция 01-04 сент. 2020