Abstract: Работа будет посвящена анализу реальных экспериментальных данных для наночастиц размерами менее 100 нм рентгеновским порошковым дифракционным методом. Студенты научатся работать со структурной базой данных; анализировать экспериментальный дифракционный профиль; использовать формулу Селякова-Шеррера; моделировать структуры как отдельных наночастиц различных форм и размеров, так и наноструктурированных систем; рассчитывать теоретические дифрактограммы для наноразмерных объектов (программный комплекс DIANNA (Yatsenko D.A., Tsybulya S.V.).

Cite: Яценко Д.А.
Моделирование порошковых дифракционных картин наноразмерных систем
IV Конференция и Школа для молодых ученых "Терморентгенография и Рентгенография Наноматериалов" 19-21 окт. 2020