Реферат: В докладе, на примере многочисленных работ, выполненных на УНУ станция EXAFS спектроскопии Сибирского Центра Синхротронного и Терагерцового Излучения (СЦТСИ, Новосибирск), рассмотрены аппаратурные и методические особенности, методики обработки экспериментальных данных и анализа полученной структурной информации. Для широкого круга разнотипных наноразмерных систем продемонстрированы возможности XAFS спектроскопии, как самостоятельного метода, так и в комплексе с другими физическими методами исследования – РФА СИ, ПЭМВР, РФЭС, СЭМ и др.

Библиографическая ссылка: Кривенцов В.В.
XAFS спектроскопия в СЦСТИ: методики, возможности, примеры исследований наносистем сложного состава
ХIII школа-конференция молодых ученых «КоМУ-2021» 18-22 окт. 2021