Применение растровой электронной микроскопии для исследования материалов. Mapping - Conference attendances | Sciact - CRIS-system of Boreskov Institute of Catalysis

Применение растровой электронной микроскопии для исследования материалов. Mapping Conference attendances

Language

Русский

Participant type

Пленарный

Conference

IX Международная конференция студентов и молодых ученых "Перспективы развития фундаментальных наук"
24-27 Apr 2012 , Томск

Authors

Salanov Aleksei Nikolaevich ¹

Affiliations

1	Boreskov Institute of Catalysis SB RAS

Саланов А.Н.
Применение растровой электронной микроскопии для исследования материалов. Mapping
IX Международная конференция студентов и молодых ученых "Перспективы развития фундаментальных наук" 24-27 апр. 2012