Analysis of Total X-Ray Scattering Data at Studying Nanostructure of γ-Al2O3 - Доклады на конференциях | Sciact - CRIS-система Института катализа

Analysis of Total X-Ray Scattering Data at Studying Nanostructure of γ-Al2O3 Доклады на конференциях

Язык

Английский

Тип доклада

Устный

Конференция

International Conference «Synchrotron Radiation Techniques for Catalysts and Functional Materials»
31 окт. - 3 нояб. 2022 , Novosibirsk

Авторы

Пахарукова Вера Павловна ^1,2 , Яценко Дмитрий Анатольевич ^1,2 , Герасимов Евгений Юрьевич ^1,2 , Цыбуля Сергей Васильевич ^1,2

Организации

1	Институт катализа им. Г.К. Борескова СО РАН
2	Новосибирский национальный исследовательский государственный университет

Pakharukova V.P. , Yatsenko D.A. , Gerasimov E.Y. , Tsybulya S.V.
Analysis of Total X-Ray Scattering Data at Studying Nanostructure of γ-Al2O3
International Conference «Synchrotron Radiation Techniques for Catalysts and Functional Materials» 31 Oct - 3 Nov 2022