Реферат: В докладе, на примере работ выполненных на станции EXAFS спектроскопии Сибирского Центра Синхротронного и Терагерцового излучения (СЦТСИ, Новосибирск), рассмотрены аппаратурные и методические особенности, методики обработки экспериментальных данных и анализа полученной структурной информации. Для широкого круга исследованных функциональных наноматериалов продемонстрированы возможности рентгеновской спектроскопии поглощения в «жестком» диапазоне (XANES/EXAFS), как самостоятельного метода, так и в комплексе с другими физическими методами исследования.

Библиографическая ссылка: Кривенцов В.В.
Рентгеновская спектроскопия поглощения (XANES/EXAFS) в «жестком» диапазоне для исследования функциональных наноматериалов в ЦКП СЦСТИ
Третья всероссийская молодежная конференция «Высокоточная диагностика функциональных материалов: лабораторные и синхротронные исследования» 09-14 окт. 2023