Применение электронной микроскопии в качестве комплементарного метода в синхротронных исследованиях функциональных материалов - Доклады на конференциях | Sciact - CRIS-система Института катализа

Применение электронной микроскопии в качестве комплементарного метода в синхротронных исследованиях функциональных материалов Доклады на конференциях

Язык

Русский

Тип доклада

Пленарный

Конференция

III Школа молодых ученых по синхротронным методам исследования в материаловедении
28-30 окт. 2024 , Новосибирск

Авторы

Герасимов Евгений Юрьевич ¹

Организации

1	Институт катализа им. Г.К. Борескова СО РАН

Герасимов Е.Ю.
Применение электронной микроскопии в качестве комплементарного метода в синхротронных исследованиях функциональных материалов
III Школа молодых ученых по синхротронным методам исследования в материаловедении 28-30 окт. 2024