Sciact
  • EN
  • RU

Анализ структуры, химического и электронного строения тонких пленок с помощью метода рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии Доклады на конференциях

Язык Русский
Тип доклада Устный
Конференция 4 Школа «Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии. Функциональные наноматериалы»
25-29 апр. 2011 , Новосибирск
Авторы Каичев В.В. 1 , Смирнова Т.П. 2 , Гриценко В.А. 3
Организации
1 Институт катализа им. Г.К. Борескова СО РАН
2 Институт неорганической химии им. А.В. Николаева СО РАН
3 Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова СО РАН
Библиографическая ссылка: Каичев В.В. , Смирнова Т.П. , Гриценко В.А.
Анализ структуры, химического и электронного строения тонких пленок с помощью метода рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
4 Школа «Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии. Функциональные наноматериалы» 25-29 апр. 2011