Sciact
  • EN
  • RU

Применение метода XAFS-спектроскопии для исследования особенностей структуры MOCVD наносистем Доклады на конференциях

Язык Русский
Тип доклада Стендовый
Конференция XX Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения
07-10 июл. 2014 , Новосибирск
Авторы Доровских Светлана Игоревна 1 , Викулова Евгения Сергеевна 1 , Жерикова Ксения Васильевна 1 , Максимовский Евгений Анатольевич 1 , Шубин Юрий Викторович 1 , Морозова Наталья Борисовна 1 , Кривенцов Владимир Владимирович 2
Организации
1 Институт неорганической химии им. А.В. Николаева СО РАН
2 Институт катализа им. Г.К. Борескова СО РАН
Библиографическая ссылка: Доровских С.И. , Викулова Е.С. , Жерикова К.В. , Максимовский Е.А. , Шубин Ю.В. , Морозова Н.Б. , Кривенцов В.В.
Применение метода XAFS-спектроскопии для исследования особенностей структуры MOCVD наносистем
XX Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения 07-10 июл. 2014