Применение метода EXAFS-спектроскопии для определения локальной структуры полупроводниковых наночастиц, стабилизированных в диэлектрических матрицах - Conference attendances | Sciact - CRIS-system of Boreskov Institute of Catalysis

Применение метода EXAFS-спектроскопии для определения локальной структуры полупроводниковых наночастиц, стабилизированных в диэлектрических матрицах Conference attendances

Language

Русский

Participant type

Стендовый

Conference

XX Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения
07-10 Jul 2014 , Новосибирск

Authors

Valeev Rishat Galeevich ¹ , Beltiukov Artemii Nikolaevich ¹ , Kriventsov Vladimir Vladimirovich ² , Mezentsev Nikolay Aleksandrovich ³

Affiliations

1	Physical-Technical Institute UB RAS
2	Boreskov Institute of Catalysis SB RAS
3	Budker Institute of Nuclear Physics SB RAS

Валеев Р.Г. , Бельтюков А.Н. , Кривенцов В.В. , Мезенцев Н.А.
Применение метода EXAFS-спектроскопии для определения локальной структуры полупроводниковых наночастиц, стабилизированных в диэлектрических матрицах
XX Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения 07-10 июл. 2014