Структурные аспекты «эффекта памяти » в слоистых двойных гидроксидах, установленные с применением полнопрофильного анализа на основе модели дефектных кристаллов Conference attendances
| Language | Русский | ||||
|---|---|---|---|---|---|
| Participant type | Ключевой | ||||
| Conference |
Химия под знаком СИГМА: Исследования, Инновации, Технологии : IV Всероссийская научная молодежная школа‐конференция 12-18 May 2014 , Омск |
||||
| Authors |
|
||||
| Affiliations |
|
Cite:
Леонтьева Н.Н.
, Черепанова С.В.
, Дроздов В.А.
, Бельская О.Б.
Структурные аспекты «эффекта памяти » в слоистых двойных гидроксидах, установленные с применением полнопрофильного анализа на основе модели дефектных кристаллов
Химия под знаком СИГМА: Исследования, Инновации, Технологии : IV Всероссийская научная молодежная школа‐конференция 12-18 мая 2014
Структурные аспекты «эффекта памяти » в слоистых двойных гидроксидах, установленные с применением полнопрофильного анализа на основе модели дефектных кристаллов
Химия под знаком СИГМА: Исследования, Инновации, Технологии : IV Всероссийская научная молодежная школа‐конференция 12-18 мая 2014