Современная растровая электронная микроскопия для исследования и характеризации материалов - Доклады на конференциях | Sciact - CRIS-система Института катализа

Современная растровая электронная микроскопия для исследования и характеризации материалов Доклады на конференциях

Язык

Русский

Тип доклада

Стендовый

Конференция

4 Школа «Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии. Функциональные наноматериалы»
25-29 апр. 2011 , Новосибирск

Авторы

Саланов Алексей Николаевич , Супрун Евгений Александрович

Организации

1	Институт катализа им. Г.К. Борескова СО РАН

Саланов А.Н. , Супрун Е.А.
Современная растровая электронная микроскопия для исследования и характеризации материалов
4 Школа «Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии. Функциональные наноматериалы» 25-29 апр. 2011