Abstract: В представленном докладе рассмотрены физические основы метода XAFS спектроскопии, методические и аппаратурные особенности, методы предобработки экспериментальных данных и анализа структурной информации. На примере широкого круга различных наноразмерных систем продемонстрированы возможности XAFS спектроскопии, как самостоятельного метода, так и в комплексе с другими физическими методами исследования - ПЭМВР, СЭМ, РФЭС, РФА СИ и др. Показана перспективность использованного комплексного подхода для исследования разбавленных наноструктурированных систем, упорядоченных полупроводниковых наноструктур, нанокомпозитных катализаторов сложного состава, биологических наноматериалов.

Cite: Кривенцов В.В.
"Возможности XAFS-спектроскопии для исследования функциональных материалов"
Цикл научных школ для молодых специалистов "Установки Mega-science для фундаментальных и прикладных исследований". Школа для молодых специалистов "Развитие аналитических методик в материаловедении на базе источников синхротронного и терагерцового излучени 05-06 дек. 2017