Abstract: На примере работ выполненных на станции EXAFS спектроскопии Сибирского Центра Синхротронного и Терагерцового излучения (СЦТСИ, Новосибирск), рассмотрены методики обработки экспериментальных данных и анализа полученной структурной информации. Для широкого круга различных наноразмерных систем продемонстрированы возможности XAFS спектроскопии, как самостоятельного метода, так и в комплексе с другими физическими методами исследования – РФА СИ, ПЭМВР, СЭМ, РФЭС.

Cite: Кривенцов В.В.
Спектроскопия XAFS
Летняя школа «Синхротронное излучение в мультидисциплинарных исследованиях» 23-26 июл. 2019