Исследование дефектной структуры и морфологии наночастиц CdS и Cd1-xMnxS методом рентгеновской дифракции - Доклады на конференциях | Sciact - CRIS-система Института катализа

Исследование дефектной структуры и морфологии наночастиц CdS и Cd1-xMnxS методом рентгеновской дифракции Доклады на конференциях

Язык

Русский

Тип доклада

Устный

Конференция

Методы исследования состава и структуры функциональных материалов : 3-я Всероссийская научная конференция
01-04 сент. 2020 , ИК СО РАН, Новосибирск

Авторы

Евтушок Боян Юрьевич ^1,2 , Черепанова Светлана Витальевна ^1,2 , Козлова Екатерина Александровна ^1,2

Организации

1	Институт катализа им. Г.К. Борескова СО РАН
2	Новосибирский национальный исследовательский государственный университет

Евтушок Б.Ю. , Черепанова С.В. , Козлова Е.А.
Исследование дефектной структуры и морфологии наночастиц CdS и Cd1-xMnxS методом рентгеновской дифракции
Методы исследования состава и структуры функциональных материалов : 3-я Всероссийская научная конференция 01-04 сент. 2020