Возможности метода XAFS спектроскопии для исследования функциональных наноматериалов. Доклады на конференциях
Язык | Русский | ||
---|---|---|---|
Тип доклада | Устный | ||
Конференция |
X Всероссийская школа-конференция молодых ученых (КоМУ-2013) 02-06 дек. 2013 , Ижевск |
||
Авторы |
|
||
Организации |
|
Библиографическая ссылка:
Кривенцов В.В.
Возможности метода XAFS спектроскопии для исследования функциональных наноматериалов.
X Всероссийская школа-конференция молодых ученых (КоМУ-2013) 02-06 дек. 2013
Возможности метода XAFS спектроскопии для исследования функциональных наноматериалов.
X Всероссийская школа-конференция молодых ученых (КоМУ-2013) 02-06 дек. 2013