Применение метода EXAFS-спектроскопии для определения локальной структуры полупроводниковых наночастиц, стабилизированных в диэлектрических матрицах Доклады на конференциях
Язык | Русский | ||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|
Тип доклада | Стендовый | ||||||
Конференция |
XX Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения 07-10 июл. 2014 , Новосибирск |
||||||
Авторы |
|
||||||
Организации |
|
Библиографическая ссылка:
Валеев Р.Г.
, Бельтюков А.Н.
, Кривенцов В.В.
, Мезенцев Н.А.
Применение метода EXAFS-спектроскопии для определения локальной структуры полупроводниковых наночастиц, стабилизированных в диэлектрических матрицах
XX Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения 07-10 июл. 2014
Применение метода EXAFS-спектроскопии для определения локальной структуры полупроводниковых наночастиц, стабилизированных в диэлектрических матрицах
XX Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения 07-10 июл. 2014