Применение метода XAFS-спектроскопии для исследования особенностей структуры MOCVD наносистем Conference Abstracts
Conference |
XX Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения 07-10 Jul 2014 , Новосибирск |
||||
---|---|---|---|---|---|
Source | XX Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения "СИ-2014". 7 - 10 июля 2014 г. Книга тезисов Compilation, ИЯФ СО РАН. Новосибирск.2014. 129 c. |
||||
Output data | Year: 2014, Pages: 103 Pages count : 1 | ||||
Authors |
|
||||
Affiliations |
|
Funding (6)
1 | Russian Foundation for Basic Research | 14-03-01066 |
2 | Siberian Branch of the Russian Academy of Sciences | 64 |
3 | Russian Foundation for Basic Research | 12-03-01039 (01201258422) |
4 | Russian Foundation for Basic Research | 12-03-01154 |
5 | Президиум РАН | 24 |
6 | Russian Foundation for Basic Research | 13-03-12193 (01201368704) |
Cite:
Доровских С.И.
, Викулова Е.С.
, Жерикова К.В.
, Максимовский Е.А.
, Шубин Ю.В.
, Морозова Н.Б.
, Кривенцов В.В.
Применение метода XAFS-спектроскопии для исследования особенностей структуры MOCVD наносистем
In compilation XX Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения "СИ-2014". 7 - 10 июля 2014 г. Книга тезисов. – ИЯФ СО РАН., 2014. – C.103.
Применение метода XAFS-спектроскопии для исследования особенностей структуры MOCVD наносистем
In compilation XX Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения "СИ-2014". 7 - 10 июля 2014 г. Книга тезисов. – ИЯФ СО РАН., 2014. – C.103.
Identifiers:
No identifiers
Citing:
Пока нет цитирований