Применение вторичной ионной масс-спектрометрии для анализа состава и структуры поверхностных слоёв высокодисперсных материалов Conference Abstracts
Conference |
Методы исследования состава и структуры функциональных материалов : 1-ая Всероссийская научная конференция 11-16 Oct 2009 , Новосибирск |
||
---|---|---|---|
Source | 1-я Всероссийская научная конференция "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов", МИССФМ-2009, Новосибирск, 11-16 октября 2009 г. Compilation, ИК СО РАН. Новосибирск.2009. 426 c. РИНЦ |
||
Output data | Year: 2009, Article number : КД-2-2, Pages count : 1 | ||
Authors |
|
||
Affiliations |
|
Cite:
Иванов В.П.
Применение вторичной ионной масс-спектрометрии для анализа состава и структуры поверхностных слоёв высокодисперсных материалов
In compilation 1-я Всероссийская научная конференция "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов", МИССФМ-2009, Новосибирск, 11-16 октября 2009 г.. – ИК СО РАН., 2009. – C.62.
Применение вторичной ионной масс-спектрометрии для анализа состава и структуры поверхностных слоёв высокодисперсных материалов
In compilation 1-я Всероссийская научная конференция "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов", МИССФМ-2009, Новосибирск, 11-16 октября 2009 г.. – ИК СО РАН., 2009. – C.62.
Identifiers:
No identifiers
Citing:
Пока нет цитирований