1
|
Valeev R.G.
, Deev A.N.
, Surnin D.V.
, Kriventsov V.V.
, Karban O.V.
, Vetoshkin V.M.
, Pivovarova O.I.
Study of Thin Ge Films with Amorphous and Nanocrystalline Phases via the Techniques of EXAFS Spectroscopy and AFM
Journal of Surface Investigation: X-Ray, Synchrotron and Neutron Techniques. 2010.
V.4. N1. P.136-141. DOI: 10.1134/S1027451010010209
WOS
Scopus
РИНЦ
|
2
|
Валеев Р.Г.
, Деев А.Н.
, Сурнин Д.В.
, Кривенцов В.В.
, Карбан О.В.
, Ветошкин В.М.
, Пивоварова О.И.
Исследование тонких пленок Ge с аморфно-нанокристаллической структурой методами EXAFS-спектроскопии и АСМ
Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2010.
№2. С.60-65.
РИНЦ
|
3
|
Валеев Р.Г.
, Деев А.Н.
, Гильмутдинов Ф.З.
, Быстров С.Г.
, Пивоварова О.И.
, Романов Э.А.
, Кривенцов В.В.
, Шарафутдинов М.Р.
, Елисеев А.А.
Локальная атомная структура пленок селенида цинка по данным EXAFS спектроскопии
Журнал структурной химии. 2008.
Т.49. С.S125-S129.
RSCI
РИНЦ
|
4
|
Valeev R.G.
, Deev A.N.
, Gilmutdinov F.Z.
, Bystrov S.G.
, Pivovarova O.I.
, Romanov E.A.
, Kriventsov V.V.
, Sharafutdinov M.R.
, Eliseev A.A.
Local Atomic Structure of Zinc Selenide Films: EXAFS Data
Journal of Structural Chemistry. 2008.
V.49. NSupplement. P.S124-S128. DOI: 10.1007/s10947-008-0210-5
WOS
Scopus
РИНЦ
|
5
|
Valeev R.G.
, Deev A.N.
, Surnin D.V.
, Kriventsov V.V.
, Karban O.V.
, Vetoshkin V.M.
, Pivovarova O.I.
The Structure Study of Amorphous Nanocrystalline Nanocomposite Films of Germanium by AFM and EXAFS Methods
Surface and Interface Analysis. 2008.
V.40. N3-4. P.547-551. DOI: 10.1002/sia.2765
WOS
Scopus
РИНЦ
|